X射线测定应【yīng】力以衍射花样特征的变化作为应变的量【liàng】度。具有非破坏性，可测小范围局部应力，可测表层应力，可区【qū】别应力类型【xíng】、测量时无需【xū】使材料【liào】处于无【wú】应力状态等优点，但其【qí】测【cè】量精【jīng】确【què】度受【shòu】组织结构的影响较【jiào】大，X射线【xiàn】也【yě】难以【yǐ】测定动态瞬时【shí】应【yīng】力。

宏观应力的测定 宏【hóng】观残留应力的方向和大【dà】小【xiǎo】，直【zhí】接影响机器【qì】零件的使用寿【shòu】命【mìng】。利用测量点阵【zhèn】平面在不同方向【xiàng】上的间距【jù】的变化，可计算出残留应力的大小和方向。
微【wēi】观应力的测定 由【yóu】衍射【shè】花【huā】样的形【xíng】状和强【qiáng】度可计算晶粒和微应力的大小。