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检 测 项 目 介 绍 表 | ||
检测参数 | 显微结晶学分析 | |
常规仪器 | X射线衍射仪 | |
联系电话 | 010-62333720 | |
test@curecon.net | ||
检测周期 | 9-21个工作日 | |
检测参数介绍: 当物质进行衍射分析时,该物质被X射线照射产生【shēng】不同程【chéng】度的衍射【shè】现象,物质组成、晶【jīng】型、分子内成键方式、分子【zǐ】的【de】构型、构【gòu】象等决【jué】定该【gāi】物质产生特有的衍【yǎn】射图谱。X射线【xiàn】衍射方法具有不【bú】损【sǔn】伤样品、无污染、快捷【jié】、测量【liàng】精度【dù】高、能得到【dào】有关晶体完【wán】整性的大【dà】量信息等优点。 | ||
测试要求: 样品要求:样品为粉末或块状。大小为10*10*2mm,表面尽量抛光,小于长度20mm 厚度10mm。 |